電子元件恒溫恒濕試驗箱是電子制造業(yè) “可靠性工程" 的核心設備，通過模擬不同環(huán)境條件下的長期應力，幫助企業(yè)提前發(fā)現電子元件的潛在缺陷，是保障終端設備（如手機、汽車、航天器）穩(wěn)定運行的關鍵測試環(huán)節(jié)。

產品型號：
廠商性質：生產廠家
更新時間：2025-08-06
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產品概述：

電子元件恒溫恒濕試驗箱是專為電阻、電容、芯片、傳感器、連接器、線路板等電子元件設計的環(huán)境可靠性測試設備，通過精準模擬高溫高濕、低溫干燥、溫濕度循環(huán)等復雜環(huán)境，評估電子元件在不同氣候條件下的性能穩(wěn)定性、電氣安全性及使用壽命。

核心功能與測試目的

環(huán)境參數精準模擬

可實現溫度（常規(guī)范圍-20℃~150℃、 - 40℃~150℃、 - 60℃~150℃）和相對濕度（支持 5%~98% RH）的精準調控，模擬熱帶高濕、寒帶低溫、晝夜溫差驟變等復雜環(huán)境，甚至可模擬 “溫度 + 濕度 + 時間" 的循環(huán)應力（如每天 8 小時高溫高濕、16 小時常溫干燥的周期性測試）。

電子元件性能評估

通過長時間或循環(huán)測試，重點檢測電子元件在環(huán)境應力下的關鍵指標變化：

電氣性能：如電阻值漂移、電容容量衰減、芯片邏輯功能失效、連接器接觸電阻增大（因濕度導致氧化）等；

物理穩(wěn)定性：如線路板焊點開裂（溫度驟變導致熱脹冷縮不均）、元件封裝材料老化（高溫導致開裂或密封性下降）、引腳銹蝕（高濕環(huán)境下的電化學腐蝕）；

安全風險：如絕緣材料擊穿電壓下降（高濕導致絕緣性能弱化）、元件短路（凝露引發(fā)的漏電）等。

技術參數：

型號		ZY-H201-1000K40
標稱內容積		1000L
內箱尺寸		1000mm×1000mm×1000mm（W×H×D）
外形尺寸		1250mm×2066mm×1910mm（W×H×D）
重量		700kg
電流		24A
功率		11.5kw
電源		三相，380V，50/60HZ
技術參數	溫度范圍	空載－40℃ ～ + 150℃
	濕度范圍	20%~98%R.H.（可非標5%~98%R.H.)
	溫濕度范圍表
	控制精度	溫度分辨率：0.01℃ 濕度分辨率：0.1%R.H 溫度偏差： ±2℃ 濕度偏差： ±2%R.H 溫度均勻度：≦ 2℃ 濕度均勻度：±3%R.H 溫度波動度：±0.5℃ 濕度波動度：± 2%R.H
	升降溫速率	升溫時間：-70℃ → + 150℃ 全程平均 ≧ 3℃ / min
		降溫時間：150℃ → -70℃ 全程平均 ≧ 1℃ / min

電子元件恒溫恒濕試驗箱是電子制造業(yè) “可靠性工程" 的核心設備，通過模擬不同環(huán)境條件下的長期應力，幫助企業(yè)提前發(fā)現電子元件的潛在缺陷，是保障終端設備（如手機、汽車、航天器）穩(wěn)定運行的關鍵測試環(huán)節(jié)。

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